Contribution à la caractérisation de composants diffractifs réalisés sur des matériaux de type polypeptide : application aux mémoires diffractives Contribution to the characterization of diffractives components realized on materials of polypeptide type,application to diffractives memories couches minces méthodes optiques résonance des couches minces composants diffractifs mémoires diffractives photopolypeptides Thin layers ; optical methods ; resonance of thin layers ; diffractives components ; diffractives memories ; photopolypeptide 530.7 Couches minces Thèses et écrits académiques Diffraction Thèses et écrits académiques Holographie Thèses et écrits académiques La caractérisation des couches minces transparentes et des composants diffractifs de phase a une grande importance scientifique et technologique. Au cours de ce travail, et à partir des contraintes posées, nous avons proposé une méthode non destructive et non complexe qui peut être utilisée à la fois pour la caractérisation des couches vierges ou des structures diffractives sur les photopolypeptides. Cette méthode de résonance des couches minces permet la mesure des paramètres optiques à partir des variations de la réflectivité en fonction de l'angle d'incidence. En améliorant son principe, en réduisant ses erreurs, et en développant les programmes d'auto-étalonnage et de mesures sous LABVIEW. Les résultats obtenus sur des étalons par cette méthode sont tous à fait en accord avec ceux qui nous ont été fourni par leurs constructeurs. Cette méthode a été utilisée également pour la caractérisation des structures diffractives de polypeptide, l'accord des résultats obtenus avec des mesures de leur efficacité de diffraction ont confirmé son utilisation.Parmi les avantages de la méthode proposée, outre sa facilité de mis en œuvre, son étendue de mesure, elle permet aussi la caractérisation des couches ayant un indice de réfraction proche de celui du substrat " comme le cas des couches de photopolypeptide après développement ", ceci aurait été très difficile par les méthodes connues : interférentielles, spectroscopiques, ou ellipsomètriques. The optical characterization of transparent thin layers and diffractive phase components has a great scientific and technological importance. Starting from constraints, we propose a nondestructive and simple method which can be used for the characterization of the plain layers and for the same with diffractive structure of photopolypeptides. This method is named resonance of thin layers allows to the measurement of the optical parameters resulting from the local variations of the reflectivity according to the angle of incidence. By improving basic principle, by reducing errors, and by developing calibration programs of measurement process under LABVIEW. The results obtained on standards by this method are in agreement with those which were provided by their manufacturers. The method is then used for the characterization of the diffractive polypeptide layers. The agreement of the results obtained with measurements of diffraction efficiency confirms its power.The proposed method allows the characterization of the layers having an index of refraction close to that of the substrate " like the case of the photopolypeptide layers after development ", this would have been very difficult by the known methods: interferential, spectroscopic, ellipsometric. Electronic Thesis or Dissertation Text fr France PDF https://publication-theses.unistra.fr/public/theses_doctorat/2004/ELOUAD_Lhassan_2004.pdf Université de Strasbourg Strasbourg Elouad Lhassan 1975-01-01T00:00:00 FR 14916601X http://www.theses.fr/2004STR13048 2004STR13048 2004-01-01T00:00:00 Électronique, microélectronique, optique et lasers, optoélectronique, micro-ondes Université Louis Pasteur (Strasbourg) 026404540 Doctorat Docteur es non oui Meyrueis Patrick 070140405 École doctorale Mathématiques, sciences de l'information et de l'ingénieur (Strasbourg ; 1997-....) ED269 156504863 ddc:530